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日立臺式電鏡TM4000/TM4000PlusⅡ斬獲2019ANTOP大獎

  第十八屆北京分析測試學術報告會暨展覽會(BCEIA 2019)于2019年10月23日-10月26日在北京國家會議中心隆重召開。展會期間2019年10月24日,由分析測試百科網主辦的2019年ANTalk分析測試百家講壇暨ANTOP頒獎盛典舉行。
       
  天美日立臺式電鏡TM4000/TM4000PlusⅡ榮獲“更受用戶歡迎的臺式電子顯微鏡”獎項。

 天美日立臺式電鏡TM4000/TM4000PlusⅡ獲獎
 
更受用戶歡迎的臺式電子顯微鏡


產品介紹:

  第一臺臺式電子顯微鏡可以一次獲得/實現SE/BSE圖像、CL圖像和STEM圖像,在世界范圍內占有最高的市場份額。

  日立TM4000Ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統使得樣品不需任何處理即可快速進行觀察。 TM4000Ⅱ優化提供5kV、10kV、15kV、20KV四種不同電壓下的觀察模式,每種模式下電流4檔可調,并配備4分割背散射探測器,可采集四個不同方向的圖像信息,對樣品進行多種模式成像。具有全新的SEM-MAP導航功能,zig-zag大范圍拼圖功能更準確可靠,同時,電鏡圖片可以報告形式導出。配備大型樣品倉,可容納最大樣品直徑80mm,厚度50mm。
  
  TM4000PlusⅡ可將二次電子圖像和背散射電子圖像疊加并實時進行顯示,獲得最多的樣品信息。TM4000PlusⅡ可以選配Multi Zigzag功能,可實現大范圍自動連續拍照和自動拼圖功能。臺式SEM應用范圍更廣,助力您的事業發展。

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